光衰是電池產(chǎn)品可靠性的重要性能指標(biāo)之一。電池光衰所指的含義主要包括兩種，光致衰減(LID)和熱輔助光誘導(dǎo)衰減(LeTID)。

1973年H.Fischer等在P型摻硼CZ晶硅電池上發(fā)現(xiàn)了LID，1997年Jan Schmid等證實(shí)這是因?yàn)樾纬闪伺鹧鯊?fù)合中心，該機(jī)理得到了業(yè)界一致認(rèn)可。為了在P型晶硅上改善這一問(wèn)題，工業(yè)屆采取了如下幾種方式：(1)降低氧含量，通過(guò)熱場(chǎng)及拉晶工藝降低硅片氧含量;(2)采用鎵替代硼作為P型摻雜劑;(3)LID恢復(fù)處理：2006年Alex Herguth等人發(fā)現(xiàn)在較高溫度的光照條件下或在施加正向電流的情況下，硼氧對(duì)會(huì)經(jīng)歷衰減—再生過(guò)程，這一過(guò)程能有效改善LID現(xiàn)象。而摻磷的N型晶硅因?yàn)榕鸷繕O低，本質(zhì)上消除了硼氧對(duì)的影響，幾乎不會(huì)產(chǎn)生LID現(xiàn)象。晶科能源根據(jù)IEC 63202-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的LID測(cè)試內(nèi)容(1 sun，60±5 ℃，一般累計(jì)5 kWh，最大20kWh)，對(duì)典型的晶硅電池LID(5kWh)衰減進(jìn)行了測(cè)試，結(jié)果如下圖所示：

LeTID現(xiàn)象最先由K. Ramspeck等人于2012年在P型多晶PERC電池上發(fā)現(xiàn)。LeTID是光伏材料普遍存在的一種現(xiàn)象：摻鎵P型晶硅和N型晶硅都有關(guān)于這種現(xiàn)象的報(bào)道。其根本原因尚未明確，但目前學(xué)術(shù)界提供了兩種可能的理論解釋：(1)HID (氫誘導(dǎo)衰減)，澳洲新南威爾士大學(xué)研究團(tuán)隊(duì)將LeTID的原因更多地歸結(jié)于氫誘導(dǎo)。對(duì)此，Stuart Wenham教授使用水桶理論進(jìn)行了闡述和解釋。(2)鈍化衰減，尚未有人揭露其清晰的物理機(jī)制，但改善這一問(wèn)題的可能方向還是采用低氫含量的薄膜層、控制電池制作過(guò)程中的溫度、開(kāi)發(fā)與LID類似的LeTID恢復(fù)技術(shù)等。晶科能源根據(jù)IEC TS 63202-4的LeTID測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)討論稿(1 sun，75±2℃，168小時(shí))，對(duì)典型的晶硅電池LeTID衰減進(jìn)行了測(cè)試，結(jié)果如下：

晶科能源Tiger Neo系列N型組件以其出色的光衰性能(首年衰減小于1%，線性衰減小于0.4%)，贏得了業(yè)界廣泛關(guān)注。基于實(shí)驗(yàn)室條件，剛經(jīng)生產(chǎn)完畢的N型電池及組件都有“零衰減”甚至是“負(fù)衰減”等特性，以上晶科的數(shù)據(jù)針對(duì)N型TOPCon測(cè)試為-0.1%LID及-0.3%LeTID也佐證了這個(gè)理論。但由于外部環(huán)境以及材料的老化，在實(shí)際的外部環(huán)境下，功率衰減會(huì)相應(yīng)升高，這也解釋了為什么部分廠家使用“零光衰“的說(shuō)法，但同時(shí)只堅(jiān)持首年質(zhì)保維持在1%而非0%。除了更優(yōu)的首年衰減外，晶科TigerNeo系列組件的線性衰減也十分出色。組件線性衰減控制在小于0.4%/年的范圍內(nèi)，在長(zhǎng)達(dá)30年的生命周期里，Tiger Neo系列N型組件對(duì)比常規(guī)P型組件，最終功率輸出能從84.8%提升至87.4%，為整個(gè)光伏系統(tǒng)帶來(lái)更高的發(fā)電量輸出，實(shí)現(xiàn)LCOE成本的大幅下降。

晶科能源Tiger Neo系列N型組件相應(yīng)的戶外測(cè)試數(shù)據(jù)如下圖所示，由數(shù)據(jù)可知，組件在1個(gè)月內(nèi)的衰減均控制在0.32%以內(nèi)，而在長(zhǎng)達(dá)10個(gè)月的時(shí)間周期衰減也依然控制在0.7%左右，這無(wú)疑給客戶吃了一劑定心丸。可以預(yù)見(jiàn)的是，在更長(zhǎng)的生命周期里，晶科能源Tiger Neo系列組件會(huì)以更加強(qiáng)勁的優(yōu)勢(shì)在光伏項(xiàng)目中脫穎而出，引領(lǐng)光伏行業(yè)進(jìn)步和升級(jí)。